Iec 60749-28：2017用于靜電放電靈敏度測試

這個國際電工委員會(IEC)已發(fā)布iec 60749-28：2017本標準適用于半導體設(shè)備.機械和氣候試驗方法.第28部分：靜電放電(Esd)靈敏度測試-充電設(shè)備模型(Cdm)-設(shè)備級別，現(xiàn)在可在iec上使用。

Iec 60749-28：2017說明：

“iec 60749-28：2017(E)根據(jù)它們建立測試、評估和分類設(shè)備和微電路的程序。易感性(靈敏度)因暴露于限定的場致荷電裝置模型(CDM)靜電放電(ESD)而損壞或退化。

　　所有封裝半導體器件、薄膜電路、聲表面波(SAW)器件、光電子器件、混合集成電路(HIC)和包含任何這些器件的多芯片模塊(MCMs)都將根據(jù)本文件進行評估。為了執(zhí)行測試，設(shè)備組裝成一個包，類似于終應(yīng)用程序中所期望的包。本清潔發(fā)展機制文件不適用于嵌裝排放模型測試人員。本文描述了場誘導(FI)方法.附件一介紹了另一種方法，即直接接觸(DC)法。
 

　　本文件的目的是建立一種測試方法，以復制CDM故障，并提供可靠、可重復的CDM ESD測試結(jié)果，無論設(shè)備類型如何?？芍貜偷臄?shù)據(jù)將使清潔發(fā)展機制ESD敏感性水平的準確分類和比較成為可能。
 

Iec 60749-28：2017文件歷史：

　　2017年3月1日

　　半導體器件 - 機械和氣候試驗方法 - 第28部分：靜電放電(ESD)靈敏度試驗 - 帶電器件模型(CDM) - 器件級

　　IEC 60749的這一部分根據(jù)設(shè)備和微電路對損壞或降級的敏感性(靈敏度)建立了測試，評估和分類的程序。

　　Iec 60749-28：2017文檔引用于：

　　IEC 半導體器件 - 機械和氣候試驗方法 - 第43部分：IC可靠性鑒定計劃指南

　　IEC于2017年 6月1日發(fā)布

　　IEC 60749的這一部分給出了半導體集成電路產(chǎn)品(IC)可靠性鑒定計劃的指南。本文件不適用于軍事和太空相關(guān)......